実験装置

透過電子顕微鏡

30万ボルトで加速した電子を試料に照射し、拡大像や電子回折図形を観察することが出来ます。電界放射型の電子銃を搭載しており、ナノスケールでの分析が可能です。1998年製の装置ですが、非常に良い状態です。石丸はこの装置を2000年から使用し、研究成果を100通以上の論文として報告しています。
装置名：日本電子製JEM-3000F
加速電圧： 300kV
点分解能： 0.17nm@300kV
分析装置：エネルギー分散型X線分光器（ウルトラスィンウインドウ）
　　　　　ファラデーカップ

Ｘ線回折装置

4軸ゴニオメーターにより、材料の格子定数、配向性、結晶性に関する情報を得ることが出来ます。また、逆格子空間のマッピングにも用いています。
装置名：PANAlytical社製X'Pert
X線源：Co管球
出力：45kV-40mA

イオンミリング装置

アルゴンガスを用いたイオンビームにより、電子線が透過出来るように試料を薄くする装置です。
装置名：GATAN社製PIPS Model 691
加速電圧：1～6 kV

高周波加熱炉(美和製作所)

試料の熱処理に用いています。高周波により試料を急速に加熱することが出来ます。
動作範囲：800〜2000℃
雰囲気：真空あるいは不活性ガス

回転研磨機、トライポッドポリッシャー

イオンミリングの前処理として使う装置で、機械研磨により試料を10マイクロメータ以下まで薄くすることが出来ます。
装置名：South Bay Technology社製

イメージングプレート読み取り装置

電子顕微鏡で観察した像や回折図形を記録したイメージングプレートを読み取る装置です。
装置名：DITABIS社製MICRON