実験装置

加速した電子が材料を通り抜ける際に回折されることを利用し、原子スケールからナノスケールでの結晶構造や
ナノ構造を直接調べることが出来ます。

日本電子製　JEM-3000F（石丸研究室）

加速電圧	300kV
特徴	電界放出型電子銃・エネルギー分散型X線分光装置汎用型TEMでは最高峰の分解能を持ったTEMです。加熱・冷却しながらの観察も可能です。

日本電子製　JEM-F200（機器分析センター）

加速電圧	200kV
特徴	電界放出型電子銃・エネルギー分散型X線分光装置 2020年3月に導入された最新型の汎用TEMです。結晶構造・ナノ構造観察に加えて、4nm以下の化学元素マッピングも可能です。

材料により回折されたX線を観測することにより、結晶構造などを調べることが出来ます。

デスクトップＸ線回折装置

Rigaku MiniFlex600
封入管型の粉末X線回折装置です。セラミックス試料などの結晶構造の同定や、精密
構造解析に利用します。

多連装粉末X線回折装置（放射光科学研究施設BL-4B2）

シンクロトロン放射光を用いた高精度X線粉末回折装置です。単色化された放射光を
多連装検出器を用いて検出することにより、超高精度の精密構造解析が可能です。

全自動水平型多目的X線回折装置（機器分析センター）

Rigaku SmartLab
回転対陰極型の粉末X線回折装置です。セラミックス試料などの結晶構造の同定や、
精密構造解析に利用します。

イオンミリング装置 Gatan製 PIPS Model 691 透過型電子顕微鏡観察のためには、50nm程度に薄片化された試料を作製する必要があります。アルゴンイオン・ビームを利用し、試料を薄くする装置です。
カーボン蒸着装置日本電子製　JEC-530 絶縁体試料の帯電を防ぐため、試料表面に極薄カーボン膜を蒸着するための装置です。
回転研磨器・トライポッドポリッシャーイオンミリングの前処理のため、試料を10μm程度まで機械研磨するための装置です。
光学顕微鏡（正立型2台／倒立型1台／実体型3台）・デジタル顕微鏡（1台）試料表面状況やミリング状況などを確認するために利用します。 CCDカメラにより像の撮影も可能です。